Caracterización de la fiabilidad en transistores de potencia: Una aproximación integrada de hardware y software para la generación y el análisis de datos

Abstract

Este trabajo consta de la preparación de un banco de trabajo completo para la realización de pruebas de estrés de sobrecarga sobre tarjetas electrónicas y la obtención de las curvas características de este tipo de pruebas. Además, incluye la elaboración de programas de software para el análisis de estas curvas además de una aproximación a la detección de patrones y tendencias.