1. UMH: Repositorio RediUMH
  2. Docente
  3. ESTUDIOS DE GRADO (TFG)
  4. Grado en Ingeniería Electrónica y Automática Industrial
  5. TFG-Ingeniería Electrónica y Automática Industrial
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/11000/38054
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorMarroquí Sempere, David-
dc.contributor.advisorGarrigós Sirvent, Ausiàs-
dc.contributor.authorAlcaraz Martínez, David-
dc.contributor.otherDepartamentos de la UMH::Ingeniería de Sistemas y Automáticaes_ES
dc.date.accessioned2025-11-10T17:50:06Z-
dc.date.available2025-11-10T17:50:06Z-
dc.date.created2025-07-
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11000/38054-
dc.description.abstractEste trabajo consta de la preparación de un banco de trabajo completo para la realización de pruebas de estrés de sobrecarga sobre tarjetas electrónicas y la obtención de las curvas características de este tipo de pruebas. Además, incluye la elaboración de programas de software para el análisis de estas curvas además de una aproximación a la detección de patrones y tendencias.es_ES
dc.formatapplication/pdfes_ES
dc.format.extent361es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherUniversidad Miguel Hernández de Elchees_ES
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/*
dc.subjectelectrónicaes_ES
dc.subjectautomáticaes_ES
dc.subjecthardwarees_ES
dc.subjectsoftwarees_ES
dc.subject.otherCDU::6 - Ciencias aplicadas::62 - Ingeniería. Tecnologíaes_ES
dc.titleCaracterización de la fiabilidad en transistores de potencia: Una aproximación integrada de hardware y software para la generación y el análisis de datoses_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises_ES
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TFG-Ingeniería Electrónica y Automática Industrial


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