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https://hdl.handle.net/11000/38054Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | Marroquí Sempere, David | - |
| dc.contributor.advisor | Garrigós Sirvent, Ausiàs | - |
| dc.contributor.author | Alcaraz Martínez, David | - |
| dc.contributor.other | Departamentos de la UMH::Ingeniería de Sistemas y Automática | es_ES |
| dc.date.accessioned | 2025-11-10T17:50:06Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-10T17:50:06Z | - |
| dc.date.created | 2025-07 | - |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11000/38054 | - |
| dc.description.abstract | Este trabajo consta de la preparación de un banco de trabajo completo para la realización de pruebas de estrés de sobrecarga sobre tarjetas electrónicas y la obtención de las curvas características de este tipo de pruebas. Además, incluye la elaboración de programas de software para el análisis de estas curvas además de una aproximación a la detección de patrones y tendencias. | es_ES |
| dc.format | application/pdf | es_ES |
| dc.format.extent | 361 | es_ES |
| dc.language.iso | spa | es_ES |
| dc.publisher | Universidad Miguel Hernández de Elche | es_ES |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es_ES |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional | * |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | * |
| dc.subject | electrónica | es_ES |
| dc.subject | automática | es_ES |
| dc.subject | hardware | es_ES |
| dc.subject | software | es_ES |
| dc.subject.other | CDU::6 - Ciencias aplicadas::62 - Ingeniería. Tecnología | es_ES |
| dc.title | Caracterización de la fiabilidad en transistores de potencia: Una aproximación integrada de hardware y software para la generación y el análisis de datos | es_ES |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | es_ES |
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TFG-Alcaraz Martínez, David.pdf
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