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Estudio de mecanismos para combatir eventos transitorios en memorias para aplicaciones espaciales


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Título :
Estudio de mecanismos para combatir eventos transitorios en memorias para aplicaciones espaciales
Autor :
Yáñez Sigüenza, Alex Ananías
Tutor:
Gutiérrez Mazón, roberto  
Gutiérrez-Castro, Daniel  
Editor :
Universidad Miguel Hernández de Elche
Departamento:
Departamentos de la UMH::Ingeniería de Comunicaciones
Fecha de publicación:
2024-02
URI :
https://hdl.handle.net/11000/31989
Resumen :
El objetivo de este proyecto se basa en el estudio del arte en lo que respecta a mecanismos para combatir las SEUs en las memorias SRAM utilizadas en aplicaciones espaciales. Este estudio se centrará en la aplicación de técnicas de corrección de errores y redundancia para abordar estos problemas. Además, se propone el diseño y verificación sobre una Spartan 7 FPGA (Field Programable Gate Array) de dos tipos de memorias Static RAM utilizando el lenguaje VHDL (Very High Descriptive Language), la primera mediante la técnica de detección y corrección de errores (EDAC), y la segunda mediante la triple redundancia modular (TMR). Estas dos implementaciones serán sometidas a un análisis comparativo. Es importante destacar que este proyecto está diseñado específicamente para su aplicación en orbitas cercanas a la Tierra, donde la radiación cósmica es relativamente baja. Esta consideración es esencial ya que influye en las decisiones tomadas en cuanto a estrategias de mitigación de errores y la evaluación de su rendimiento.
Palabras clave/Materias:
SEUs
memorias SRAM
aplicaciones espaciales
Spartan 7 FPGA
lenguaje VHDL
Área de conocimiento :
CDU: Ciencias aplicadas: Ingeniería. Tecnología
Tipo documento :
application/pdf
Derechos de acceso:
info:eu-repo/semantics/openAccess
Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional
Aparece en las colecciones:
TFG-Ingeniería Electrónica y Automática Industrial



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